uu.seUppsala universitets publikasjoner
Endre søk
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
A site-specific focused-ion-beam lift-out method for cryo Transmission Electron Microscopy
Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Tillämpad materialvetenskap.
Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Tillämpad materialvetenskap.
Dept of Microbiology, Swedish University of Agricultural Sciences, Uppsala.
Gatan Inc, Abingdon Oxon, UK.
Vise andre og tillknytning
2012 (engelsk)Inngår i: Journal of Structural Biology, ISSN 1047-8477, E-ISSN 1095-8657, Vol. 180, nr 3, s. 572-576Artikkel i tidsskrift (Fagfellevurdert) Published
Abstract [en]

The focused-ion-beam (FIB) is the method of choice for site-specific sample preparation for Transmission Electron Microscopy (TEM) in material sciences. A lamella can be physically lifted out from a specific region of a bulk specimen with submicrometer precision and thinned to electron transparency for high-resolution imaging in the TEM. The possibility to use this tool in life sciences applications has been limited by the lack of lift-out capabilities at the cryogenic temperatures often needed for biological samples. Conventional cryo-TEM sample preparation is mostly based on ultramicrotomy, a procedure that is not site-specific and known to produce artifacts. Here we demonstrate how a cooled nanomanipulator and a custom-built transfer station can be used to achieve cryo-preparation of TEM samples with the FIB, enabling high-resolution investigation of frozen-hydrated specimens in the TEM.

sted, utgiver, år, opplag, sider
2012. Vol. 180, nr 3, s. 572-576
Emneord [en]
Cryo-EM, Cryo-FIB, Cryo-SEM, Cryo-TEM, FIB, Frozen-hydrated sample, Sample preparation, Specimen thinning, TEM
HSV kategori
Forskningsprogram
Teknisk fysik med inriktning mot materialvetenskap
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:uu:diva-184896DOI: 10.1016/j.jsb.2012.08.012ISI: 000311471000020OAI: oai:DiVA.org:uu-184896DiVA, id: diva2:570911
Merknad

De två första författarna delar förstaförfattarskapet.

Tilgjengelig fra: 2012-11-20 Laget: 2012-11-15 Sist oppdatert: 2019-04-24bibliografisk kontrollert

Open Access i DiVA

Fulltekst mangler i DiVA

Andre lenker

Forlagets fulltekst

Personposter BETA

Rubino, StefanoAkhtar, SultanLeifer, Klaus

Søk i DiVA

Av forfatter/redaktør
Rubino, StefanoAkhtar, SultanLeifer, Klaus
Av organisasjonen
I samme tidsskrift
Journal of Structural Biology

Søk utenfor DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetric

doi
urn-nbn
Totalt: 826 treff
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf