uu.seUppsala universitets publikasjoner
Endre søk
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
3D electron tomography analysis of silicon nanoparticles in SiC matrices by quantitative determination of EELS plasmon intensities
Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Tillämpad materialvetenskap.
Photovoltaic Materials and Devices, Delft University of Technology.
(Photovoltaic Materials and Devices, Delft Univeristy of Technology, P.O. Box 5031, 2600 GA Delft, The Netherlands)
(Photovoltaic Materials and Devices, Delft Univeristy of Technology, P.O. Box 5031, 2600 GA Delft, The Netherlands)
Vise andre og tillknytning
2014 (engelsk)Konferansepaper, Poster (with or without abstract) (Fagfellevurdert)
sted, utgiver, år, opplag, sider
2014.
Emneord [en]
Electron tomography
HSV kategori
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:uu:diva-285839OAI: oai:DiVA.org:uu-285839DiVA, id: diva2:921205
Konferanse
18th International Microscopy Congress, Prague.
Tilgjengelig fra: 2016-04-19 Laget: 2016-04-19 Sist oppdatert: 2016-04-26

Open Access i DiVA

Fulltekst mangler i DiVA

Personposter BETA

Xie, LingLeifer, Klaus

Søk i DiVA

Av forfatter/redaktør
Xie, LingLeifer, Klaus
Av organisasjonen

Søk utenfor DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetric

urn-nbn
Totalt: 537 treff
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf