Nitrogen 1s electron binding energy assignment in carbon nitride thin films with different structures 1997 (Engelska)Ingår i: JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA, ISSN 0368-2048, Vol. 87, nr 1, s. 45-49Artikel i tidskrift (Övrigt vetenskapligt) Published

Abstract [en]

Carbon nitride thin films deposited by dc unbalanced magnetron sputtering have been analyzed by high-resolution X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and Raman spectroscopy. The XPS data show that N 1s binding stares depend on substrate temperature (T-s)

Ort, förlag, år, upplaga, sidor

ELSEVIER SCIENCE BV , 1997. Vol. 87, nr 1, s. 45-49

Nyckelord [en]

carbon nitride film; XPS; Raman spectrum; N 1s binding energy; AMORPHOUS-CARBON; PHYSICAL-PROPERTIES; CNX; DEPOSITION

Identifikatorer

URN: urn:nbn:se:uu:diva-72097OAI: oai:DiVA.org:uu-72097DiVA, id: diva2:100008

Anmärkning

Addresses: Zheng WT, LINKOPING UNIV, DEPT PHYS, S-58183 LINKOPING, SWEDEN. UNIV UPPSALA, DEPT PHYS, S-75121 UPPSALA, SWEDEN. JILIN UNIV, DEPT MAT SCI, CHANGCHUN 130023, PEOPLES R CHINA.Tillgänglig från: 2008-10-17 Skapad: 2008-10-17 Senast uppdaterad: 2011-01-15

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Av organisationen

Uppsala universitet

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle ScholarTotalt: 556 träffar