uu.seUppsala universitets publikationer
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Scanning probe microscopy of single Au ion impacts in Si
Visa övriga samt affilieringar
2005 (Engelska)Ingår i: Presented at the European Material Research Society (E-MRS 2005) Spring meeting, 2005Konferensbidrag, Publicerat paper (Övrigt vetenskapligt)
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2005.
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:uu:diva-78033OAI: oai:DiVA.org:uu-78033DiVA, id: diva2:105946
Tillgänglig från: 2007-01-25 Skapad: 2007-01-25

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Personposter BETA

Jensen, Jens

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Jensen, Jens
Av organisationen
Institutionen för teknikvetenskaperJonfysik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetricpoäng

urn-nbn
Totalt: 477 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association
  • vancouver
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf