uu.seUppsala universitets publikasjoner
Endre søk
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Scanning capacitance microscopy of Si implanted with single Au+ ions
Vise andre og tillknytning
2005 (engelsk)Inngår i: Presented at the 21st Nordic Semiconductor Meeting, Oslo, Norway, 2005Konferansepaper, Publicerat paper (Annet (populærvitenskap, debatt, mm))
sted, utgiver, år, opplag, sider
2005.
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:uu:diva-78036OAI: oai:DiVA.org:uu-78036DiVA, id: diva2:105949
Tilgjengelig fra: 2007-01-25 Laget: 2007-01-25

Open Access i DiVA

Fulltekst mangler i DiVA

Personposter BETA

Jensen, Jens

Søk i DiVA

Av forfatter/redaktør
Jensen, Jens
Av organisasjonen

Søk utenfor DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetric

urn-nbn
Totalt: 489 treff
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf