uu.seUppsala universitets publikasjoner
Endre søk
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Instrumental developments for in situ breakdown experiments inside a scanning electron microscope
Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och astronomi, Högenergifysik.
Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Tillämpad materialvetenskap.
Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Tillämpad materialvetenskap.ORCID-id: 0000-0002-8360-1877
Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och astronomi, Högenergifysik.
2011 (engelsk)Inngår i: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, ISSN 0168-9002, E-ISSN 1872-9576, Vol. 657, nr 1, s. 122-125Artikkel i tidsskrift (Fagfellevurdert) Published
Abstract [en]

Electrical discharges in accelerating structures are one of the key issues limiting the performance of future high energy accelerators such as the Compact Linear Collider (CLIC). Fundamental understanding of breakdown phenomena is an important part of the CLIC feasibility study. The present work concerns the experimental study of breakdown using Scanning Electron Microscopes (SEMs). An SEM gives us the opportunity to achieve high electrical gradients of 1 kV/mu m which corresponds to 1 GV/m by exciting a probe needle with a high voltage power supply and controlling the positioning of the needle with a linear piezo motor. The gap between the needle tip and the surface is controlled with sub-micron precision. A second electron microscope equipped with a Focused Ion Beam (FIB) is used to create surface corrugations and to sharpen the probe needle to a tip radius of about 50 nm. Moreover it is used to prepare cross-sections of a voltage breakdown area in order to study the geometrical surface damages as well as the elemental composition of the breakdown.

sted, utgiver, år, opplag, sider
2011. Vol. 657, nr 1, s. 122-125
Emneord [en]
Electron microscopy, Field emission, Breakdown, CLIC
HSV kategori
Forskningsprogram
Teknisk fysik med inriktning mot materialvetenskap
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:uu:diva-163658DOI: 10.1016/j.nima.2011.04.044ISI: 000297085800020OAI: oai:DiVA.org:uu-163658DiVA, id: diva2:464993
Tilgjengelig fra: 2011-12-14 Laget: 2011-12-13 Sist oppdatert: 2019-04-24bibliografisk kontrollert

Open Access i DiVA

Fulltekst mangler i DiVA

Andre lenker

Forlagets fulltekst

Personposter BETA

Muranaka, TomokoBlom, TobiasLeifer, KlausZiemann, Volker

Søk i DiVA

Av forfatter/redaktør
Muranaka, TomokoBlom, TobiasLeifer, KlausZiemann, Volker
Av organisasjonen
I samme tidsskrift
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment

Søk utenfor DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetric

doi
urn-nbn
Totalt: 918 treff
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf