uu.seUppsala universitets publikasjoner
Endre søk
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Scanning probe microscopy of single Au-ion implants in Si
Vise andre og tillknytning
2006 (engelsk)Inngår i: Materials Science and Engineering C, Vol. 26, s. 782-Artikkel i tidsskrift (Fagfellevurdert) Published
sted, utgiver, år, opplag, sider
2006. Vol. 26, s. 782-
HSV kategori
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:uu:diva-23118OAI: oai:DiVA.org:uu-23118DiVA, id: diva2:50891
Tilgjengelig fra: 2007-01-24 Laget: 2007-01-24 Sist oppdatert: 2016-06-22

Open Access i DiVA

Fulltekst mangler i DiVA

Personposter BETA

Jensen, Jens

Søk i DiVA

Av forfatter/redaktør
Jensen, Jens
Av organisasjonen

Søk utenfor DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetric

urn-nbn
Totalt: 413 treff
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf