uu.seUppsala universitets publikasjoner
Endre søk
Begrens søket
1 - 26 of 26
RefereraExporteraLink til resultatlisten
Permanent link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Treff pr side
  • 5
  • 10
  • 20
  • 50
  • 100
  • 250
Sortering
  • Standard (Relevans)
  • Forfatter A-Ø
  • Forfatter Ø-A
  • Tittel A-Ø
  • Tittel Ø-A
  • Type publikasjon A-Ø
  • Type publikasjon Ø-A
  • Eldste først
  • Nyeste først
  • Skapad (Eldste først)
  • Skapad (Nyeste først)
  • Senast uppdaterad (Eldste først)
  • Senast uppdaterad (Nyeste først)
  • Disputationsdatum (tidligste først)
  • Disputationsdatum (siste først)
  • Standard (Relevans)
  • Forfatter A-Ø
  • Forfatter Ø-A
  • Tittel A-Ø
  • Tittel Ø-A
  • Type publikasjon A-Ø
  • Type publikasjon Ø-A
  • Eldste først
  • Nyeste først
  • Skapad (Eldste først)
  • Skapad (Nyeste først)
  • Senast uppdaterad (Eldste først)
  • Senast uppdaterad (Nyeste først)
  • Disputationsdatum (tidligste først)
  • Disputationsdatum (siste først)
Merk
Maxantalet träffar du kan exportera från sökgränssnittet är 250. Vid större uttag använd dig av utsökningar.
  • 1.
    Boström, T
    et al.
    Norut Northern Research Institute Narvik, Norge.
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik.
    Lu, J
    Division of Thin Film Physics, Department of Physics, Chemistry and Biology - IFM, Linköping University, Linköping.
    Jensen, J
    Division of Thin Film Physics, Department of Physics, Chemistry and Biology - IFM, Linköping University, Linköping.
    Westin, Gunnar
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Kemiska sektionen, Institutionen för materialkemi, Oorganisk kemi.
    Wäckelgård, Ewa
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik.
    Structure and morphology of nickel-alumina/silica solar thermal selective absorbers2011Inngår i: Journal of Non-Crystalline Solids, ISSN 0022-3093, E-ISSN 1873-4812, Vol. 357, nr 5, s. 1370-1375Artikkel i tidsskrift (Fagfellevurdert)
    Abstract [en]

    Nickel-alumina/silica thin film materials for the use in solar thermal absorbers have been investigated using Scanning Electron Microscopy (SEM), Transmission Electron Microscopy (TEM) and Elastic Recoil Detection Analysis (ERDA). The TEM images revealed that all layers have a very small thickness variation and that the layers are completely homogenous. High resolution images showed 5-10 nm (poly) crystalline nickel nano-particles. ERDA showed that both the silica and alumina compositions contain more oxygen than 2:1 and 3:2 respectively. SEM showed the surface morphology and characteristics of the top silica anti-reflection layer. Hybrid-silica has showed to generate a smoother surface with less cracking compared to pure silica. The final curing temperature revealed to be of importance for the formation of cracks and the surface morphology.

  • 2.
    Boström, Tobias
    et al.
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik.
    Jensen, Jens
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Jonfysik.
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik.
    Westin, Gunnar
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Kemiska sektionen, Institutionen för materialkemi, Oorganisk kemi.
    Wäckelgård, Ewa
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik.
    ERDA of Ni-Al2O3/SiO2 solar thermal selective absorbers2008Inngår i: Solar Energy Materials and Solar Cells, ISSN 0927-0248, E-ISSN 1879-3398, Vol. 92, nr 10, s. 1177-1182Artikkel i tidsskrift (Fagfellevurdert)
    Abstract [en]

    Thin film materials for the use in solar thermal absorbers have been investigated using time-of-flight energy elastic recoil detection analysis (ERDA). The ERDA measurements proved to be very efficient in detecting the elemental depth composition of a selective solar absorber. The three-layer absorber is composed of an 80% nickel-20% alumina film at the base, a 40% nickel-60% alumina layer in the middle and finally an AR film of silica or hybrid-silica film at the top. The difference between solution volume percent and actual volume percent could be investigated when studying individual nickel-alumina films with varying ratios coated on glass substrates. The result showed that there was a maximum difference of 3% between the calculated solution volume percent and the actual volume percentages in the solid films. The ERDA measurements also indicate that about 15% of the nickel found in the nickel-alumina composite films is bound in the form of NiO.

  • 3.
    Brohede, Ulrika
    et al.
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Nanoteknologi och funktionella material.
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Nanoteknologi och funktionella material.
    Strømme, Maria
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Nanoteknologi och funktionella material.
    Frenning, Göran
    Uppsala universitet, Medicinska och farmaceutiska vetenskapsområdet, Farmaceutiska fakulteten, Institutionen för farmaci.
    Percolative drug diffusion from cylindrical matrix systems with unsealed boundaries2007Inngår i: Journal of Pharmaceutical Sciences, ISSN 0022-3549, E-ISSN 1520-6017, Vol. 96, nr 11, s. 3087-3099Artikkel i tidsskrift (Fagfellevurdert)
    Abstract [en]

    Release of NaCl in both the axial and radial directions from cylindrical ethyl cellulose tablets were investigated by the alternating ionic current method. The pore structure of the investigated binary mixtures was examined by mercury porosimetry and scanning electron microscopy, and the nm range fractal surface dimension of tablet pore walls was extracted from krypton gas adsorption isotherms. The drug release was shown to consist of two overlapping processes of which the first was ascribed to dissolution of NaCl close to the tablet boundary followed by subsequent diffusion through a thin ethyl cellulose layer and a second from which a porosity percolation threshold of 0.22 could be extracted. As well, a cross-over to effective-medium behaviour at a porosity of 0.44 was observed. The presented findings showed that drug release from matrix tablets with unsealed tablet walls substantially differs from earlier investigated release processes for which the drug has only been allowed to escape through one of the flat tablet surfaces. Thus, the present study brings forward knowledge important for the tailoring of controlled drug delivery vehicles with optimum release patterns.

  • 4. Franz, S
    et al.
    Bestetti, M
    Surpi, A
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik.
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Fasta tillståndets fysik.
    Romankiw, L T
    Cavallotti, P L
    Perpendicular magnetic recording media by electrochemical techniques2006Konferansepaper (Annet vitenskapelig)
  • 5. Franz, S
    et al.
    Bestetti, M
    Surpi, A
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Elektronmikroskopi.
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Fasta tillståndets fysik.
    Romankiw, L T
    Cavalotti, P L
    ACD and ECD for magnetic recording media by electrochemical tedhniques2006Konferansepaper (Annet vitenskapelig)
  • 6. franz, silvia
    et al.
    bestetti, m
    Politecnico di Milano.
    surpi, alessandro
    # Istituto di Fotonica e Nanotecnologie (C.N.R.).
    valizadeh, Sima
    Uppsala universitet.
    romankiw, l.t
    cavalloti, p.l
    Perpendicular magnetic recording media by electrochemical techniques,2005Inngår i: SAMIC, 2005Konferansepaper (Fagfellevurdert)
  • 7. Franz, Silvia
    et al.
    Bestetti, Massimilano
    Surpi, Alessandro
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Tillämpad materialvetenskap. Electron Microscopy and Nanoengineering.
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Tillämpad materialvetenskap. Solid State Physics.
    Romankiw, Lubomyr
    Cavalotti, Pietro Luigi
    Perpendicular magnetic recording media by electrochemical techniques2006Konferansepaper (Annet (populærvitenskap, debatt, mm))
  • 8.
    HERNANDEZ, F
    et al.
    EME, Departament d’Electrònica, University of Barcelona c/Martí i Franquès 1, E-08028 Barcelona, Spain.
    CASALS, O
    EME, Departament d’Electrònica, University of Barcelona c/Martí i Franquès 1, E-08028 Barcelona, Spain.
    VILA, A
    EME, Departament d’Electrònica, University of Barcelona c/Martí i Franquès 1, E-08028 Barcelona, Spain.
    Morante, J.R
    EME, Departament d’Electrònica, University of Barcelona c/Martí i Franquès 1, E-08028 Barcelona, Spain.
    ROMANO-RODRIGUEZEL, ALBERTO
    EME, Departament d’Electrònica, University of Barcelona c/Martí i Franquès 1, E-08028 Barcelona, Spain.
    ABID, M
    EME, Departament d’Electrònica, University of Barcelona c/Martí i Franquès 1, E-08028 Barcelona, Spain.
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Materialvetenskap. Elektronmikroskopi och nanoteknologi.
    Hjort, Klas
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Materialvetenskap. Materialvetenskap.
    Electrical characterization of Nanowires contacted using a FIB2005Inngår i: microscopy of Semiconducting materials conference, 2005Konferansepaper (Fagfellevurdert)
  • 9.
    Hernandez, F
    et al.
    Departament d’Electrònica, University of Barcelona c/Martí i Franquès 1, E-08028 Barcelona, Spain.
    Olga, O
    abid, M
    Laboratoire de Physique des Matériaux Nanostructurés EPFL, CH-1015 Lausanne, Switzerland.
    Rodriguez, J
    EME, Departament d’Electrònica, University of Barcelona c/Martí i Franquès 1, E-08028 Barcelona, Spain.
    Vila, A
    EME, Departament d’Electrònica, University of Barcelona c/Martí i Franquès 1, E-08028 Barcelona, Spain.
    Morante, J
    Leibniz Institute of New Materials, University of Saarland, D-66123 Saarbruecken, Germany.
    Romano-Rodríguez, Albert
    EME, Departament d’Electrònica, University of Barcelona c/Martí i Franquès 1, E-08028 Barcelona, Spain.
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. electronmicroscopy and nanoengineering.
    Fabrication of electrical nanocontacts to nanometer-sized materials and structures using a Focused Ion Beam2005Inngår i: Materials Research Society.Proc, Vol. j.5.2, nr 2Artikkel i tidsskrift (Fagfellevurdert)
  • 10. Hernández, F
    et al.
    Casals, O
    Vilà, A
    Morante, J. R
    Romano-Rodríguez, A
    Abid, M
    Abid, J.-P
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Materialvetenskap.
    Hjort, Klas
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Materialvetenskap.
    Collin, J.-P
    Jouati, A
    Nanocontacts fabricated by Focused Ion Beam (FIB): characterisation and application to nanometre-sized materials,2005Inngår i: Microscopy of Semiconducting Materials - MSMXIV (Oxford, U.K., April 11-14, 2005)., 2005Konferansepaper (Fagfellevurdert)
  • 11. Hernández-Ramírez, F
    et al.
    Casals, O
    Rodríguez, J
    Vilà, A
    Romano-Rodríguez, A
    Morante, J.R
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Materialvetenskap.
    Hjort, Klas
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Materialvetenskap.
    Abid, M
    Electrical characterisation of nanowires and nanoparticles contacted using a FIB2005Inngår i: Conferencia de Dispositivos Electrónicos 2005 (Tarragona, Spain, Febr. 2-4, 2005)., 2005Konferansepaper (Fagfellevurdert)
  • 12.
    Hjort, Klas
    et al.
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Materialvetenskap. Experimentell fysik.
    Abid, M
    Skupinski, Marek
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Materialvetenskap. Experimentell fysik.
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Materialvetenskap. Experimentell fysik. Elektronmikroskopi och nanoteknologi.
    Electrodeposition of ferromagnetic Zn1-xMnxO2004Inngår i: The Gordon Research Conf. on Electrodeposition, New London, NH, USA, 2004Konferansepaper (Fagfellevurdert)
  • 13.
    Högström, H
    et al.
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Fasta tillståndets fysik.
    Valizadeh, S
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik.
    Garcia-Vidal, F J
    Martin-Moreno, L
    Ribbing, C G
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Fasta tillståndets fysik.
    Extraordinary Optical Transmittance through SIC – Ion Beam Processing for Surface Plasmonics2005Inngår i: Materials Research Society Fall Meeting, 2005, s. GG2.6-Konferansepaper (Fagfellevurdert)
  • 14.
    Karis, Olof
    et al.
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Kemiska sektionen, Institutionen för fysikalisk och analytisk kemi, Analytisk kemi. Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Institutionen för materialkemi, Oorganisk kemi.
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Kemiska sektionen, Institutionen för fysikalisk och analytisk kemi, Analytisk kemi. Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Institutionen för materialkemi, Oorganisk kemi. Elektronmikroskopi.
    Surpi, Alessandro
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Kemiska sektionen, Institutionen för fysikalisk och analytisk kemi, Analytisk kemi. Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Institutionen för materialkemi, Oorganisk kemi. Istituto di Fotonica e Nanotecnologie (C.N.R.).
    HUNTER DUNN, J
    MAX-lab, Lund, Sweden..
    SVEDLINDH, PETER
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Kemiska sektionen, Institutionen för fysikalisk och analytisk kemi, Analytisk kemi. Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Institutionen för materialkemi, Oorganisk kemi.
    Stanciu, V
    Warnicke, P
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Kemiska sektionen, Institutionen för fysikalisk och analytisk kemi, Analytisk kemi. Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Institutionen för materialkemi, Oorganisk kemi.
    Sandell, Anders
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Kemiska sektionen, Institutionen för fysikalisk och analytisk kemi, Analytisk kemi. Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Institutionen för materialkemi, Oorganisk kemi.
    Nyholm, Leif
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Kemiska sektionen, Institutionen för fysikalisk och analytisk kemi, Analytisk kemi. Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Institutionen för materialkemi, Oorganisk kemi. oorganisk kemi.
    Sanyal, Biplab
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Kemiska sektionen, Institutionen för fysikalisk och analytisk kemi, Analytisk kemi. Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Institutionen för materialkemi, Oorganisk kemi.
    Eriksson, Olle
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Kemiska sektionen, Institutionen för fysikalisk och analytisk kemi, Analytisk kemi. Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Institutionen för materialkemi, Oorganisk kemi.
    Electronic and geometric structure of (Zn,Co)O room temperature Ferromagnets2005Inngår i: 50th MMM Meeting Program, 2005Konferansepaper (Fagfellevurdert)
  • 15.
    Nilsson, Martin
    et al.
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Nanoteknologi och funktionella material.
    Mihranyan, Albert
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Nanoteknologi och funktionella material.
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Nanoteknologi och funktionella material.
    Strömme, Maria
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Nanoteknologi och funktionella material.
    Mesopore structure of microcrystalline cellulose tablets characterized by nitrogen adsorption and SEM: The influence on water-induced ionic conduction2006Inngår i: Journal of Physical Chemistry B, ISSN 1520-6106, E-ISSN 1520-5207, Vol. 110, nr 32, s. 15776-15781Artikkel i tidsskrift (Fagfellevurdert)
    Abstract [en]

    Tablets of microcrystalline cellulose were formed at different compaction pressures and physical properties, such as pore size distribution, surface area, and pore surface fractality, were extracted from N-2 adsorption isotherms. These properties were compared to previously published data on the water-induced ionic conductivity of the tablets. The conduction process was shown to follow a percolation model with a percolation exponent of 2 and a porosity percolation threshold of similar to 0.1. The critical pore diameter for facilitated charge transport was shown to be in the 5-20 nm range. When the network of pores with a diameter in this interval is reduced to the point where it no longer forms a continuous passageway throughout the compact, the conduction process is dominated by charge transport on the surfaces of individual microfibrils mainly situated in the bulk of fibril aggregates. A fractal analysis of nitrogen adsorption isotherms showed that the dominant interface forces during adsorption is attributed to surface tensions between the gas and the adsorbed liquid phase. The extracted fractal dimension of the analyzed pore surfaces remained unaffected by the densification process at low compaction pressures (< similar to 200 MPa). At increased densification, however, pore-surface structures smaller than similar to 100 nm become smoother as the fractal dimension decreases from similar to 2.5 at high porosities to similar to 2.3 for the densest tablets under study.

  • 16. Romano-Rodríguez, A
    et al.
    Hernández-Ramírez,, F
    Rodríguez, J
    Casals, O
    Vilà, A
    Morante, J.R
    Abid, M
    Abid, J.-P
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Materialvetenskap. Elektronmikroskopi och nanoteknologi.
    Hjort, Klas
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Materialvetenskap. Materialvetenskap.
    Collin, J.-P
    Jouaiti, A
    Fabrication of electrical contacts to nanometre-sized materials using electron- and ion-assisted deposition in a focused ion beam machine2005Inngår i: 5th int. conf, and 7th annual general meeting of the european society for precision engineering and nanotechnology, EUSPEN’05 (Montpellier, France, May 8-11, 2005)., 2005Konferansepaper (Fagfellevurdert)
  • 17.
    Romano-Rodríguez, Albert
    et al.
    1EME/CErMAE/CEMIC Departament d’Electrònica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès, 1; E-08028 Barcelona.
    Hernabdez-Ramirez, F
    1EME/CErMAE/CEMIC Departament d’Electrònica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès, 1; E-08028 Barcelona.
    rodriguez, j.
    1EME/CErMAE/CEMIC Departament d’Electrònica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès, 1; E-08028 Barcelona.
    Casals, o
    1EME/CErMAE/CEMIC Departament d’Electrònica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès, 1; E-08028 Barcelona.
    vila, a
    1EME/CErMAE/CEMIC Departament d’Electrònica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès, 1; E-08028 Barcelona.
    Morante, J.r
    1EME/CErMAE/CEMIC Departament d’Electrònica, Universitat de Barcelona, Martí i Franquès, 1; E-08028 Barcelona.
    abid, m
    3Laboratoire de Physique des Matériaux Nanostructurés, École Polytechnique Fédérale de Lausanne, EPFL,.
    abid, j.p
    3Laboratoire de Physique des Matériaux Nanostructurés, École Polytechnique Fédérale de Lausanne, EPFL,.
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Materialvetenskap. electronmicroscopy and nanoengineering.
    Hjort, Klas
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap, Experimentell fysik. Materialvetenskap. Materialvetenskap.
    colloin, j.p
    Nanocontacts fabricated by Focused Ion Beam (FIB): characterization and application to nanometer-sized materials2005Inngår i: EUSPEN'05, 2005Konferansepaper (Fagfellevurdert)
  • 18.
    Surpi, Alessandro
    et al.
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Experimentell fysik. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Tillämpad materialvetenskap. Electron Microscopy and Nanoengineering.
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Experimentell fysik. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Tillämpad materialvetenskap. Solid State Physics.
    Leifer, Klaus
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Experimentell fysik. Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Tillämpad materialvetenskap. Electron Microscopy and Nanoengineering.
    Franz, Silvia
    Lagomarsino, Stefano
    Bestetti, Massimiliano
    Micromanufacturing by Focus Ion Beam2006Konferansepaper (Annet (populærvitenskap, debatt, mm))
  • 19.
    Surpi, Alessandro
    et al.
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Fysiska sektionen, Institutionen för fysik och materialvetenskap.
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Tillämpad materialvetenskap.
    Leifer, Klaus
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Tillämpad materialvetenskap.
    Lagomarsino, Stefano
    Istituto di Fotonica e Nanotecnologie (CNR) Via Cineto Romano 42, 00156 Roma, Italy.
    Focused ion beam fabrication procedures of x-ray micro Fresnel zone plates2007Inngår i: Journal of Micromechanics and Microengineering, ISSN 0960-1317, E-ISSN 1361-6439, Vol. 17, nr 3, s. 617-622Artikkel i tidsskrift (Fagfellevurdert)
    Abstract [en]

    In this paper the use of focused ion beam (FIB) mask-less lithography is presented as a novel and simple way to fabricate x-ray Fresnel zone plates (FZPs), and a prototype of a FIB-made 100 nm resolution FZP with 38 zones is described. Considerations for future developments—the maximum aspect ratio achievable by FIB lithography in nickel, a way to produce zones with a parabolic transverse profile, as theoretically required for the highest efficiency in focusing—are also reported.

  • 20.
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Fasta tillståndets fysik.
    Template Synthesis and Electrical Characterization of Nanogap Electrodes for Transport studies using Dual Cross Beam (FIB/SEM) System2006Konferansepaper (Fagfellevurdert)
  • 21.
    Valizadeh, Sima
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Fasta tillståndets fysik.
    Transport studies of nanowires using Dual Cross Beam (FIB/SEM) System.2006Konferansepaper (Fagfellevurdert)
  • 22.
    Valizadeh, Sima
    et al.
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Experimentell fysik.
    Abid, Muhammed
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Experimentell fysik.
    Romano-Rodriguez, A
    Hjort, Klas
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Materialvetenskap. Materialvetenskap.
    Schweitz, Jan-Åke
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Materialvetenskap. Materialvetenskap.
    Electrical contacting of individual electrodeposited Au Nanowire by Focused Ion Beam techniques2006Inngår i: Nanotechnology, s. 1134-1139Artikkel i tidsskrift (Fagfellevurdert)
  • 23.
    Valizadeh, Sima
    et al.
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Experimentell fysik.
    Schweitz, J Å
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Tillämpad materialvetenskap.
    Nanoscale Electrical Transport Measurements by Focused Ion Beam2006Konferansepaper (Fagfellevurdert)
  • 24.
    Valizadeh, Sima
    et al.
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Fasta tillståndets fysik. Fasta tillståndets fysik.
    Schweitz, J Å
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Materialvetenskap. Materialvetenskap.
    Nanoscale Electrical Transport Measurements by Focused Ion Beam2006Inngår i: SPIE NEWS ROOMArtikkel i tidsskrift (Fagfellevurdert)
  • 25.
    Valizadeh, Sima
    et al.
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Nanoteknologi och funktionella material.
    Strömberg, Mattias
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Nanoteknologi och funktionella material.
    Strömme, Maria
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Nanoteknologi och funktionella material.
    Template synthesis of magnetic multilayered and single-layered nanowire2008Inngår i: Nanostructured Materials in Electrochemistry, John Wiley & Sons, 2008, s. Ch. 4 p. 211-241Kapittel i bok, del av antologi (Fagfellevurdert)
  • 26.
    Valizadeh, Sima
    et al.
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Nanoteknologi och funktionella material.
    Strömberg, Mattias
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Nanoteknologi och funktionella material.
    Welch, Kenneth
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Nanoteknologi och funktionella material.
    Strömme, Maria
    Uppsala universitet, Teknisk-naturvetenskapliga vetenskapsområdet, Tekniska sektionen, Institutionen för teknikvetenskaper, Nanoteknologi och funktionella material.
    Transport studies of nanowires using focused ion beam2006Konferansepaper (Annet vitenskapelig)
1 - 26 of 26
RefereraExporteraLink til resultatlisten
Permanent link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association
  • vancouver
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf